整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术*

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整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术*

更新时间：2025-10-30

- 整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术*
- Aeronautical Manufacturing Technology Vol. 55, Issue 11, Pages: 50-52(2012)
- 作者机构：
  
  西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2012
- 稿件说明：
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蔺小军，李宜明，李政辉，高春. 整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术*[J]. 航空制造技术, 2012, 55(11): 50-52.

[J]. Aeronautical Manufacturing Technology, 2012, 55(11): 50-52.
蔺小军，李宜明，李政辉，高春. 整体叶盘叶片型面CMM测量路径规划技术*[J]. 航空制造技术, 2012, 55(11): 50-52. DOI：

[J]. Aeronautical Manufacturing Technology, 2012, 55(11): 50-52. DOI：

摘要

由于整体叶盘结构复杂，叶片型面为复杂自由曲面，扭曲度大，加工精度要求高，相邻叶片之间的通道深而窄、开敞性差，因此造成整体叶盘制造相对单叶片困难，相应也为其测量增加了难度。测量机对叶盘型面进行测量，首先要进行路径规划，路径规划的好坏决定CMM测量的效率和有效性。

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