LTE射频发射机ACLR性能的测量技术

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LTE射频发射机ACLR性能的测量技术

更新时间：2025-10-30

- LTE射频发射机ACLR性能的测量技术
- Aeronautical Manufacturing Technology Vol. 56, Issue 20, Pages: 134-135(2013)
- 作者机构：
  
  安捷伦科技公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2013
- 稿件说明：
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Jung-ik Suh. LTE射频发射机ACLR性能的测量技术[J]. 航空制造技术, 2013, 56(20): 134-135.

[J]. Aeronautical Manufacturing Technology, 2013, 56(20): 134-135.
Jung-ik Suh. LTE射频发射机ACLR性能的测量技术[J]. 航空制造技术, 2013, 56(20): 134-135. DOI：

[J]. Aeronautical Manufacturing Technology, 2013, 56(20): 134-135. DOI：

摘要

在 LTE 等数字通信系统中，发射信号泄漏到邻近信道的功率可能会对邻近信道中的信号传输产生干扰，进而影响系统性能。相邻信道泄漏功率比（ACLR）测试可以验证系统发射机的工作性能是否符合规定的限制。鉴于 LTE 技术的复杂性，快速和精确地执行这种关键测试对于测试人员来说充满挑战性。装有 LTE 特定信号生成软件的信号发生器、装有 LTE 特定测量软件的现代化信号分析仪，以及针对该分析仪优化的方法，可以帮助测试人员战胜这一挑战。

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