如果将透平叶片放在三坐标测量机上检测会出现什么问题？测量效率低，叶片前后缘测量效果不佳，扭曲叶片还会产生测针半径补偿误差。如果运用一般三维光学扫描来测量叶片，对高反光表面叶片需要喷涂显影剂，造成测量结果失真，不能正确说明被测零件的实际情况，且设备本身精度也不高。这些问题现在都得到解决，温泽研制的大型叶片测量机CORE-M即将进入中国市场。