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利用多普勒原理测量微机电系统中微结构的动态特性
学术论文 | 更新时间:2025-10-30
    • 利用多普勒原理测量微机电系统中微结构的动态特性

    • Dynamic Properties of Microstructures in MEMS Using Doppler Effect

    • 航空制造技术   2008年51卷第17期 页码:80-84
    • DOI:10.16080/j.issn1671-833x.2008.17.011    

      中图分类号:
    • 纸质出版:2008

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  • 白金鹏,史铁林,刘胜,谢勇君. 利用多普勒原理测量微机电系统中微结构的动态特性[J]. 航空制造技术, 2008, 51(17): 80-84,93. DOI: 10.16080/j.issn1671-833x.2008.17.011.

    Dynamic Properties of Microstructures in MEMS Using Doppler Effect[J]. Aeronautical Manufacturing Technology, 2008, 51(17): 80-84. DOI: 10.16080/j.issn1671-833x.2008.17.011.

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